Espectroscopia de absorción de rayos X

[2]​ Los datos XAS se obtienen ajustando la energía del fotón,[3]​ usando un monocromador cristalino, a un rango donde los electrones internos pueden ser excitados (0.1-100 keV).

Los bordes se denominan, en parte, por el electrón del núcleo que se excita: los números cuánticos principales n = 1, 2 y 3 corresponden a los bordes K, L y M, respectivamente.

Por ejemplo, las características más intensas de un borde K se deben a las transiciones centrales de 1s → estados finales tipo p, mientras que las características más intensas del borde L3 se deben a estados finales 2p → tipo d. La metodología XAS se puede dividir ampliamente en cuatro categorías experimentales que pueden dar resultados complementarios entre sí: metal K-edge, metal L-edge, ligand K-edge y EXAFS.

El medio más obvio para mapear muestras heterogéneas más allá del contraste de absorción de rayos X es a través del análisis elemental por fluorescencia de rayos X, similar a los métodos EDX en microscopía electrónica.

En particular, su sensibilidad única a la estructura local, en comparación con la difracción de rayos X, se ha aprovechado para estudiar:

Transiciones que contribuyen a los bordes XAS
Tres regiones de datos XAS para el K-edge